北京恒奧德儀器儀表有限公司
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H15324渦流測厚儀的詳細資料：
渦流測厚儀 型號:H15324
H15324 型渦流測厚儀 是DP-ED300型測厚儀的改進型，儀器性能大幅度提高。
儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度，還可用于測量其它鋁材料、鋁工件表面的陽極氧化膜或涂層厚度，以及其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀器適于在生產(chǎn)現(xiàn)場、銷售現(xiàn)場或施工現(xiàn)場對產(chǎn)品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用于生產(chǎn)檢驗、驗收檢驗和質(zhì)量監(jiān)督檢驗。
儀器符合國家標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀器特點
H15324 型與型相比，具有如下特點：
＊量程寬 H15324 型的量程達到0～500μm。
＊精度高 H15324 型的測量精度達到2%。
＊分辨率高 H15324 型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 只校正“0"和“50μm"兩點，即可在全量程范圍內(nèi)保證設(shè)計精度。
＊基體導(dǎo)電率影響小 基體材料從純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量
誤差不大于1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高穩(wěn)定性電子器件，電路結(jié)構(gòu)優(yōu)化，儀器可靠性
提高。
＊穩(wěn)定性提高 采用先進的溫度補償技術(shù)，測量值隨環(huán)境溫度的變化很小。儀器
校正一次可在生產(chǎn)現(xiàn)場長期使用。
＊探頭線壽命長 采用德國進口的，在德國測厚儀上使用的探頭線，探頭線壽命
可大大延長。
＊探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料，微調(diào)了探頭設(shè)計，探頭芯壽命可大大延
長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞后，使用者可自行更換備用探頭。儀器無
需返廠維修。
測量范圍： 0～500μm
測量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
2.引力常量實驗儀 常量實驗儀 型號：H15322
根據(jù)卡文迪許的扭稱實驗結(jié)構(gòu)進行改進、小型化的儀器。用于演示觀察物體之間存在相互作用力的現(xiàn)象，測量萬有引力恒量G。
儀器參數(shù)：
可定性演示驗證萬有引力的存在，可定量測量引力常量G值，實驗相對誤差﹤5%。
3.可調(diào)電熱板 型號：H15320
產(chǎn)品介紹：
用途概述：
適用于實驗室、工礦企業(yè)、科研單位加熱之用。
產(chǎn)品特點：
1、均采用封閉式加熱,加熱無明火。
2、采用可控硅無級調(diào)功，適用于不同加熱溫度。
3、外殼采用靜電噴涂工藝，涂層牢固、美觀。
4.光纖光柵傳感實驗儀 傳感實驗儀 實驗儀 型號：H15313
光纖光柵傳感實驗儀包括光纖光柵測試單元和光纖光柵傳感單元，并配有專用測試軟件，計算機RS232接口。手動波長掃描，手工或計算機繪制光纖傳感波形、波長峰值移動
量測量，進而測量出光纖光柵兩大基本傳感參量-溫度及應(yīng)變。本實驗儀中，摻Er光纖ASE寬待光源和放大器可以獨立使用。
主要特點：
美國進口摻Er光纖ASE寬帶光源
波長范圍：1525-1565nm(C波段)寬帶光源和放大器可獨立使用。
性能指標：
波長掃描方式：手動 記錄方式：手動、自動 應(yīng)變傳感分辨率：<10με，范圍：0~5000με
溫度傳感分辨率：<1℃，范圍：室溫~70℃
成套性：光纖光柵測試單元、光纖光柵傳感單元
5.棉花水分儀 型號：H15312
測定原理：引進日本先進技術(shù)，采用高周波原理制成。根據(jù)被測物不同，設(shè)有多種測量轉(zhuǎn)換開關(guān)。具有測量水分范圍寬、精度高、體積小、重量輕、操作簡便等特點，可在現(xiàn)場快速測定被測物水分。該儀器適用于測量棉花等水分。
★技術(shù)性能：
u測量水分范圍：0~80%
u精 度：0%~10% 精度：±0.2%
10%~40% 精度：±0.5%
40%~80% 精度：±1%
u顯示時間：1秒
u顯 示：3?位LCD液晶數(shù)字顯示
u探針長度：200mm
u溫度補償：-10℃~+100℃
u電 源：9V（6F22型）積層電池
FD-D型 |
u體 積：160mm×60mm×27mm
u重 量：200克
以上參數(shù)資料與圖片相對應(yīng)
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